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  • 2023

    7-30

    X射線熒光光譜儀是一種分析物質組成和結構的實驗儀器。它利用X射線激發樣品中原子的內層電子躍遷,導致外層電子填補內層空位并發出熒光輻射的現象,通過測量這些熒光輻射的能量和強度來確定樣品中不同元素的存在及其相對含量。它可以對物質進行非破壞性的分析。它通過對物質中X射線的激發產生的熒光信號進行測量,來確認物質中的成分和含量。X射線熒光光譜儀的主要部件包括X射線管、樣品臺、能量分析器等。X射線管是產生X射線的主要部件,它由陽極和陰極組成,當高壓電施加到陽極和陰極之間時,陰極會發射電子...

  • 2023

    7-26

    在當今科技迅猛發展的時代,精確度和可靠性成為了各行業競爭的焦點。在制造業中,德國蔡司三坐標測量機作為一種關鍵的測量工具,扮演著重要的角色。本文將介紹基本原理、應用領域以及其在創新時代下的嶄新發展。德國蔡司三坐標測量機是一種通過測量物體在三個坐標軸上的坐標值,來確定其形狀、尺寸和位置的高精度測量設備。它通常由測量傳感器、運動控制系統和計算機軟件組成。利用三坐標測量機,可以對物體進行非接觸式的三維測量,并獲得相應的測量數據。這些數據可以用于質量控制、產品開發、工藝改進等領域。三坐...

  • 2023

    7-17

    場發射掃描電子顯微鏡是一種*而強大的顯微鏡技術,能夠以驚人的細節和清晰度呈現微觀世界的奇跡。本文將介紹原理、應用和未來發展前景。在場發射掃描電子顯微鏡中,電子束由陰極產生,并經過一系列透鏡系統對其進行聚焦。相比傳統的掃描電子顯微鏡(SEM),具備更高的分辨率和靈敏度。這是因為采用了場發射效應,即在一個極小的區域內實現電子的發射。這使得電子束更為集中、穩定,并且具有更高的速度和能量。還利用掃描線圈和檢測器來生成高分辨率的圖像,可以呈現樣品表面的微觀形貌、組成和結構等信息。在各個...

  • 2023

    7-10

    美國TA差式掃描量熱儀是一種*實驗儀器,用于測量化學反應釋放或吸收的能量變化。它通過差示熱量計原理,能夠提供高精度和高靈敏度的數據,為研究者們深入了解化學過程中的能量轉化提供了重要工具。美國TA差式掃描量熱儀的工作原理基于兩個樣品盒:參考盒和測試盒。這兩個盒子中分別裝有參比物和待測物質。參比物是已知熱容和熱特性的樣品,而待測物質則是需要研究的化學反應物。當兩個盒子同時受到相同的溫度程序控制時,會測量兩個盒子之間的溫度差異,并據此計算出反應過程中釋放或吸收的能量。具有多項優勢。...

  • 2023

    7-7

    絕緣電阻測試系統是一種關鍵設備,用于評估電氣設備的絕緣性能。其主要功能是檢測設備與大地之間的絕緣電阻,以確保電氣系統的安全運行。本文將介紹工作原理、應用領域以及其在保護人員和設備安全方面的重要性。首先,讓我們了解一下絕緣電阻測試系統的工作原理。該系統通過向電氣設備施加特定的測試電壓,然后測量電流來計算絕緣電阻值。如果絕緣電阻低于預設標準,系統會發出警報,表明設備存在絕緣故障風險。這種測試系統通常采用高精度的測量儀器和嚴格的標準,以確保測試結果的準確性和可靠性。絕緣電阻測試系統...

  • 2023

    6-29

    輝光放電發射光譜儀是一種對金屬和非金屬固體材料進行定性和定量分析的光譜方法,用來檢測鍍層厚度及化學成分金屬材料基體化學成分。測量原理:將樣品置于輝光放電源中,作為陰極進行切換。輝光放電源在低壓下充滿氬氣。在空心陽極和陰極之間施加直流電壓(樣品)。由于直流電壓的能量輸入,氬原子被電離,形成等離子體。氬離子向負樣品表面加速并擊落一些樣品原子(“濺射”)。被濺射出的樣品原子擴散到等離子體中,在那里它們與高能電子碰撞。在這些碰撞過程中,能量被傳遞給樣品原子,促使它們進入激發態,并很快...

  • 2023

    6-27

    美國TA熱重分析儀是一種能夠測定樣品隨時間或溫度變化而改變質量的儀器。它可以通過監測樣品質量的變化來探索材料的熱穩定性、氧化性、分解機理等信息。作為一種常見的實驗室測試設備,TA在材料科學、化學、生物醫藥等領域都有廣泛應用。美國TA熱重分析儀是熱重分析儀領域的一款品牌,其產品具有高精度、高靈敏度、高自動化等特點,廣受用戶認可。下面將從原理、技術特點、應用等方面介紹。一、原理TA熱重分析儀主要基于樣品質量對溫度和時間的響應曲線進行測試。當樣品被加熱時,樣品中的化學鍵被打斷,產生...

  • 2023

    6-19

    掃描電子顯微鏡SEM是一種常見的顯微鏡,它利用電子束來成像樣品的表面結構,比傳統光學顯微鏡具有更高的分辨率和放大倍數。本文將介紹原理、應用以及未來發展趨勢。探秘掃描電子顯微鏡SEM的原理是基于電子束與物質的相互作用而形成圖像。電子束從電子槍中發射出來,經過加速器后被聚焦在一個非常小的點上,然后照射到樣品表面上。樣品會反射、散射或透射電子束,這些信號被探測器捕捉并轉換為電信號,最終形成圖像。SEM的分辨率通常可以達到納米級別,因為電子束的波長比可見光短得多。同時,可以提供三維圖...

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