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  • 錫膏測厚儀
    錫膏測厚儀

    SPI3D-AH錫膏測厚儀：錫膏印刷是SMT生產(chǎn)道工序，許多的質(zhì)量缺陷都與錫膏印刷質(zhì)量有關(guān)。監(jiān)測錫膏的厚度和 變化趨勢，不但是提高質(zhì)量降低返修成本的關(guān)鍵手段，而且是滿足ISO質(zhì)量體系對過程參數(shù)監(jiān)測記錄的要求，提高客戶對生產(chǎn)質(zhì)量信心的重要措施。

    更新時間：2024-04-09型號：SPI3D-AH訪問量：1032
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  • 日本Otsuka顯微分光膜厚儀
    日本Otsuka顯微分光膜厚儀

    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的安全機制 易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進行光學(xué)常數(shù)分析 獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義

    更新時間：2023-10-07型號：OPTM SERIES訪問量：1401
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  • 日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES

    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的安全機制 易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進行光學(xué)常數(shù)分析 獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義

    更新時間：2023-10-06型號：訪問量：1036
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