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動態參數測試系統-華普通用

簡要描述:專業測試SiC及Si基IGBT、MOSFET動態時間參數特性,測試范圍可達3500V 4000A

  • 產品型號:LFT-2505
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2023-10-07
  • 訪  問  量:1091

詳細介紹

品牌其他品牌產地類別國產
應用領域電子輸入電壓220V
輸入頻率50HZ輸入電流<45A

功率器件動態參數測試系統

專業測試SiC及SiIGBT、MOSFET動態時間參數特性,測試范圍可達3500V 4000A

3500V 4000A超寬測試范圍

適用于全種類的功率器件

模塊化設計,適應不同需求

可滿足定制化需求

l測試性能

中文系統,用戶友好性

可靠性

動態測試項目

開通測試:Tdon、Tr、Ton、Eon

關斷測試:Tdoff、Tf、Toff Eoff

柵極特性:Qg

反向恢復測試:TrrQrrIrmErec

SC:IdmaxVdsmax

適用產品

兼容各種封裝方式的:Si基,SiC基的各種功率器件單管及模塊



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項目

內容

平臺設計值

備注

工作

環境

設備輸入電壓

220V

±10%

設備輸入頻率

50HZ

±5%

設備輸入電流

<45A

/

驅動

電壓

Vge

Vgon=0~+30V可調

Vgoff=0~-30V可調(5VVgon-Vgoff30V)

通過計算機設定;精度±3%

脈沖

寬度

單、雙脈沖時間可調

<4us(總時間)

通過計算機設定

母線電壓

波動范圍

±3%

/

功率回路寄生電感

寄生電感

<15nH

/

開關特性 

開通特性

Td(on): 5-400ns

Tr: 5-400ns

Ton: 5-1000ns

Eon:1-500mJ

1. Rgon/Rgoff=客戶焊接電阻

2. 開通測試發雙脈沖,脈沖時間在計算機輸入,<4us(總時間)

3. 關斷測試發單脈沖,脈沖時間在計算機輸入,<4us(總時間)

4. 分辨率:0.1ns

5. 測試精度±5%

關斷特性

Td(off):5-400ns

Tf: 5-400ns

Toff: 5-1000ns

Eoff: 1-500mJ

二極管反向恢復特性

反向恢復

Trr: 5-400ns

Qrr:1nC~100uC

Irm:0~400A

Erec:1~500mJ

1. 發雙脈沖,脈沖時間在計算機輸入,<4us(總時間)

2. 分辨率:0.1ns

3. 測試精度±5%

SC

關斷電流Idmax

關斷峰值電壓Vdsmax

Idmax:0~6000A

Vdsmax:0V~1500V

1. 發單脈沖,脈沖時間<4us,脈沖時間在計算機輸入

2. 分辨率:0.1ns

3. 測試精度±5%

柵極特性

柵電荷

Qg: 1nC~100uCzh

1. 漏極電壓50V~1500V

2. 分辨率:0.1ns

3. 測試精度±5%

 

軟件配置

 

硬件方案

i. 示波器采用力科HDO3104。

ii. 電壓探頭采用HVD3220

iii. 電流探頭采用SDN414同軸電阻。

 

服務與支持

免費樣/軟件更新/定期校準/完善培訓


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