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日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀

簡(jiǎn)要描述:日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析物質(zhì)組成的儀器。它的原理基于X射線的特性和樣品中元素的能級(jí)結(jié)構(gòu)。

  • 產(chǎn)品型號(hào):ZSX Primus IV
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2023-10-13
  • 訪  問(wèn)  量:5375

詳細(xì)介紹

行業(yè)專用類型其它價(jià)格區(qū)間面議
儀器種類臺(tái)式/落地式應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,能源
  一、產(chǎn)品描述:
 
  日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus IV采用上照射設(shè)計(jì),再不用擔(dān)心污染光路,清理麻煩和增加清理時(shí)間等問(wèn)題。 集合所有ZSX系列的優(yōu)點(diǎn):雙真空系統(tǒng),自動(dòng)真空控制,mapping/微區(qū)分析,超輕元素強(qiáng)靈敏度和自動(dòng)芯線清洗等。 ZSX PrimusIV可靈活分析復(fù)雜樣品。30μm超薄窗光管,保證輕元素分析靈敏度。mapping包可以檢測(cè)同質(zhì)性和夾雜物。ZSX Primus IV*具備迎接21世紀(jì)實(shí)驗(yàn)室挑戰(zhàn)。
 
  日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析物質(zhì)組成的儀器。它的原理基于X射線的特性和樣品中元素的能級(jí)結(jié)構(gòu)。
 
  當(dāng)X射線照射到樣品上時(shí),樣品中的原子會(huì)吸收X射線能量,使得原子內(nèi)部的電子躍遷到高能級(jí)。隨后,這些高能級(jí)的電子會(huì)以熒光的形式返回到低能級(jí),并放出特定能量的X射線。這些特定能量的X射線稱為特征X射線。
 
  波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀利用了特征X射線的波長(zhǎng)差異來(lái)分析樣品中的元素。它包含一個(gè)入射光束,它將白色X射線分散成不同波長(zhǎng)的X射線。然后,樣品被放置在入射光束中,特征X射線會(huì)被樣品吸收和發(fā)射。
 
  光譜儀中的探測(cè)器可以測(cè)量并記錄特征X射線的強(qiáng)度和波長(zhǎng)。通過(guò)比較樣品中特征X射線的波長(zhǎng)和已知元素的特征X射線的波長(zhǎng),可以確定樣品中存在的元素及其相對(duì)豐度。
 
  總結(jié)起來(lái),日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀利用樣品中元素的特征X射線的波長(zhǎng)差異來(lái)分析樣品的成分。
 
       二、分析范圍:
 
  Be - U 較小的占地面積 微區(qū)分析 上照設(shè)計(jì) 30 μm超薄窗Mapping: 元素分布 He 密封:樣品室一直在真空環(huán)境中
 
  Rigaku ZSX Primus IV是一種管式以上的連續(xù)波長(zhǎng)色散X射線熒光(WDXRF)光譜儀,可以快速定量測(cè)定鈹(Be)到鈾(U)中的主要和次要原子元素,樣本類型 - 以最di標(biāo)準(zhǔn)。
 
  新的ZSX指導(dǎo)專家系統(tǒng)XRF軟件
 
  ZSX指導(dǎo)為XRF測(cè)量和數(shù)據(jù)分析的各個(gè)方面提供支持。準(zhǔn)確的分析只能由專家進(jìn)行嗎?不 - 那是過(guò)去。ZSX Guidance軟件具有內(nèi)置的XRF專業(yè)知識(shí)和熟練的專家知識(shí),可以處理復(fù)雜的設(shè)置。操作員只需輸入有關(guān)樣品,分析組分和標(biāo)準(zhǔn)組成的基本信息。具有最小重疊,最佳背景和校正參數(shù)(包括線重疊)的測(cè)量線可以借助質(zhì)譜自動(dòng)設(shè)置。
 
  三、輕元素XRF表現(xiàn)與倒置光學(xué)為可靠性的*
 
  ZSX Primus IV具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護(hù),再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問(wèn)題并延長(zhǎng)了使用時(shí)間。ZSX Primus IV WDXRF光譜儀具有良好的性能和分析最復(fù)雜樣品的靈活性,采用30微米的管子,這是較薄的終端窗口管,可提供出色的輕元素(低Z)檢測(cè)限。
 
  映射和多點(diǎn)XRF分析
 
  結(jié)合測(cè)繪包裝來(lái)檢測(cè)均勻性和包裹體,ZSX Primus IV可以對(duì)樣品進(jìn)行簡(jiǎn)單詳細(xì)的XRF光譜測(cè)量研究,以提供其他分析方法不易獲得的分析見(jiàn)解。可用的多點(diǎn)分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。
 
  四、使用EZ-scan軟件的SQX基本參數(shù)
 
  EZ掃描允許用戶在未事先設(shè)置的情況下對(duì)未知樣品進(jìn)行XRF元素分析。節(jié)省時(shí)間功能只需點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)并輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件,它可以提供最準(zhǔn)確,最快速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正所有的矩陣效應(yīng),包括線重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素),不同氣氛,雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫(kù)和完mei的掃描分析程序可以提高準(zhǔn)確度。
 
  五、特征:
 
  1、從Be到U的元素分析
 
  2、ZSX指導(dǎo)專家系統(tǒng)軟件
 
  3、數(shù)字多通道分析儀(D-MCA)
 
  4、EZ分析界面進(jìn)行常規(guī)測(cè)量
 
  5、管道上方的光學(xué)器件使污染問(wèn)題最小化
 
  6、占地面積小,使用的實(shí)驗(yàn)室空間有限
 
  7、微量分析可分析小至500μm的樣品
 
  8、30μ管提供卓yue的輕元素性能
 
  9、映射功能的元素地形/分布
 
  10、氦氣密封意味著光學(xué)器件始終處于真空狀態(tài)
 

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